Ritka minták off-axis hologramjának gyors, nagy felbontású fázis rekonstrukciója

Digitális holográfia alkalmazásával akár százszor akkora térfogat vizsgálható át, mint egy hagyományos mikroszkóppal. Erre eddig egy Gábor Dénes féle in-line hologram mérő elrendezést használtunk. Az elrendezés geometriájából adódóan a rekonstruált képet mindig szennyezik az úgynevezett ikerkép diffrakciói. Ezeket digitális holográfia estén fázis rekonstrukciós eljárásokkal el lehet tüntetni és így az objektumok, fázis és amplitúdó eloszlását visszanyerni. Sajnos, az alkalmazható matematikai eljárások, főleg a nagy felbontást lehetővé tevő esetekben, igen lassúak. Ezért is vezették be az úgynevezett off-axis elrendezéseket. Ekkor a fázis visszaállítása, a szennyező tagok kiszűrése egyszerűbb, de a rögzített hologramnak csak egy kis része használható a rekonstrukcióra, ami csökkenti a látóteret, a felbontást. Korábban kidolgoztunk egy eljárást, amivel egy off-axis mérés adatai hatékonyan használhatóak, ugyanannak az objektumnak in-line méréssel kapott nagy felbontású, de már igen gyors fázisrekonstrukciójához. Nagyságrenddel gyorsabb lesz a fázisvisszahívás és így sokkal nagyobb felbontás, látótér válik vizsgálhatóvá. Eddig két mérésre volt szükség az algoritmus működéséhez, ami mozgó objektumok mérését lehetetlenné teszi. A kutatás célkitűzése olyan mérési elrendezés, algoritmus készítése, ami lehetővé teszi egyetlen off-axis hologram felhasználásával megoldani a rögzített objektumok gyors, pontos és nagy felbontású fázis visszaállítását. Célunk más mérő elrendezések esetére is kiterjeszteni az algoritmusunk alkalmazhatóságát, például szövettenyészetben lévő átlátszó sejtek hatékony alak mérésére.