Ritka minták hologramból történő gyors fázisrekonstrukciója

Digitális holografikus mikroszkópiát sikeresen alkalmazzuk ritka minták elemzésére, mert akár százszor akkora térfogat vizsgálható vele, mint egy hagyományos mikroszkóppal. Erre eddig Gábor féle in-line architektúrát alkalmaztunk, de az ikerkép és nullad rendű tagok a rekonstruált objektumok képét szennyezik. A fázis visszaállítása, ami eltünteti ezeket a zajokat és az objektumok alakját is megmutatja, sajnos hosszú (nagy Fresnel szám esetén pedig kimondottal hosszú) iteratív eljárással valósítható meg. Off-axis hologramok esetén egyszerűbb a fázisrekonstrukció, mivel az objektum tag a frekvencia térben elválasztható a nullad rend és ikerkép tagoktól. De ekkor a szenzor felületének csak egy kis része vesz részt a rekonstrukcióban, így csökken a használható tér-sávszélesség szorzat. Korábban sikerült olyan algoritmust kidolgozni, ami egy rögzített in-line és egy off-axis hologram segítségével az in-line hologramnak megfelelő felbontású, de nagyon gyors, fázis visszaállításra képes. A kutatás célkitűzése olyan mérési elrendezés, algoritmus készítése, ami lehetővé teszi mindezt megoldani egyetlen off-axis hologram segítségével. Ehhez az off-axis hologramot szegmentálni kell egy in-line és off-axis objektum tagokra, és az algoritmust úgy kell módosítani, hogy az a szegmentáció hibáit kompenzálja. Célunk több egyszerre megfigyelt objektum esetére megoldani a rekonstrukciót. Olyan esetekben is, amikor az off-axis tagok ezt egyébként akadályozzák. Célunk más mérési elrendezések esetére is kiterjeszteni az algoritmusunk alkalmazhatóságát. Megvizsgáljuk milyen mérő elrendezéssel és algoritmikussal lehet elérni, a szövettenyészetben lévő sejtek fázis eloszlásának a hatékony rekonstrukcióját.